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Omni-FD系列平場(chǎng)光柵極紫外光譜儀

北京卓立漢光儀器有限公司推出基于平場(chǎng)光柵的像差校正光柵光譜儀,可以為客戶提供1-80nm信號(hào)測(cè)量方案,解決 從軟x射線-極紫外-真空紫外信號(hào)分析。
 
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產(chǎn)品概述
北京卓立漢光儀器有限公司推出基于平場(chǎng)光柵的像差校正光柵光譜儀,可以為客戶提供1-80nm信號(hào)測(cè)量方案,解決從軟x射線-極紫外-真空紫外信號(hào)分析。該譜儀同時(shí)提供相應(yīng)相機(jī)接口,可以配合真空相機(jī)(國(guó)產(chǎn)或進(jìn)口)或是MCP板進(jìn)行不同能量信號(hào)的測(cè)試??蓱?yīng)用于極紫外信號(hào)標(biāo)定,高次諧波等高能實(shí)驗(yàn)。
本譜儀提供三種光柵,可以分別測(cè)試1-5nm,5-20nm以及20-80nm的信號(hào)測(cè)量,設(shè)備占空間小,并且接受個(gè)性化定制,可以完美配合您的實(shí)驗(yàn)。
 
譜儀基本參數(shù):
● 入射角度 87度
● 適用設(shè)備 MCP(微通道板)或直接真空相機(jī)
● 真空度 低于10E-5Pa
● 光柵尺寸 50X30mm
● 獨(dú)特的進(jìn)光口設(shè)計(jì),可解決入口雜散光干擾問(wèn)題
● 獨(dú)特的譜線校準(zhǔn)方案
● 根據(jù)測(cè)試不同波長(zhǎng)能量提供多種光柵
● 探測(cè)面可連續(xù)可調(diào),方便不同探測(cè)器焦深
● 獨(dú)特的零級(jí)干擾去除方案
1200g/mm光柵衍射示意圖:
 
光柵信息:
 

 光柵刻畫(huà)線(g/mm)

300

1200

2400

分辨率(nm)

0.15

0.03

0.02

光譜范圍(nm)

20-80

5-20

1-5

光譜范圍(eV)

65-15

248-62

1240-248